AT3500型X射线衍射仪产品介绍
仪器功能:
X射线衍射仪主要应用于粉末、块状
或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶
体结构分析、材料结构分析、晶体的取向性分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等。
仪器特点:
整机采用可编程序控制器PLC控制技术;
操作方便,一键式采集系统;
模块化设计,配件即插即用,无需校准;
触摸屏实时在线监测,显示仪器状态;
高功率X射线发生器,性能稳定可靠;
电子铅门联锁装置,双重防护,确保使用者安全。
仪器精度:
扫描范围:-110~161°;
扫描方式:透射、步进、连续、OMG;
最小步进角度:0.0001°;
2θ角重复精度:0.0001°;
全谱图2θ角线性精度:≤±0.01°
设备参数
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靶材类型 |
靶材:Cu、Fe、Co、Cr、Mo、Ti、W等;波纹陶瓷管或金属陶瓷管; |
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焦点尺寸 |
1×10mm²或0.4×14mm²或0.2×12mm² |
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最大输出功率 |
2.4kW |
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X光管电压 |
10~60kV,1kV/step |
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X光管电流 |
2~60mA,1mA/step |
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最大输出功率 |
3kW高频高压固态发生器 |
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输出稳定性 |
≤0.005%(电源电压波动10%) |
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测角仪结构 |
立式测角仪θs-θd结构(样品水平固定不动) |
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扫描半径 |
标准225mm(150mm~325mm连续可调) |
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扫描范围 |
-110°~161° |
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扫描速度 |
0.0012°~120°/min |
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驱动方式 |
θs-θd联动、θs或θd单动 |
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扫描方式 |
步进、连续、OMG、透射 |
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最小步进角度 |
0.0001° |
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2θ角重复精度 |
0.0001° |
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角度定位速度 |
1500°/min(2θ) |
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全谱衍射角度线性度 |
≤±0.01°(国际标准) |
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探测器类型 |
正比(PC) |
闪烁(SC) |
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能谱分辨率 |
≤20%(PC) |
≤50%(SC) |
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最大线性计数率 |
1×107CPS,噪音 ≤0.2CPS |
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安全指标 |
采用电子防护系统,铅门联锁装置,双重防护,安全可靠,确保使用者安全。 |
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X射线泄漏 |
≤0.12µsv/h(X射线管最大功率时) |
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综合稳定度 |
≤0.3%(40kV,40mA,连续工作8小时) |
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外形尺寸(mm) |
1300(长) ×1000(宽)×1800 (高) |
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